目前国内外所采用的半导体器件及集成电路扁 平封装外引线耐应力腐蚀检测方法及装置虽然各有 特点，但均存在试验周期长、效率低、与外引线实际使 用状态相去较远及难以定量之不足。本发明采用使 外引线在腐蚀介质中发生弯曲变形的加载缩短了试 验周期；在相同试验条件下同时对n×h个外引线进 行检测(n为底座数≤20，h为每个底座的外引线数≤ 10)提高了检测效率；通过记录外引线断裂失效时间 和累计失效率并以此进行威布尔统计处理可达到定 量检测之目的。
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来源：北方有色网
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