本发明提供了一种
芯片内部动作时间的检测系统及方法，芯片具有状态输出管，该检测系统包括：检测设备、外部时钟、计算单元和定义单元；检测设备具有失效地址存储单元，用于对虚拟地址进行计数；其中，芯片的状态输出管与失效地址存储单元的控制端相连；外部时钟与失效地址存储单元的输入端相连；计算单元，估算要测量的动作时间，据此定义时钟信号的周期；定义单元，在失效地址存储单元中为每个时钟信号定义不同的虚拟地址；检测设备，检测时，将虚拟地址存储于失效地址存储单元中；然后计算单元还统计存储于失效地址存储单元中的虚拟地址数目；此外，计算单元根据时钟信号的周期和虚拟地址数目，从而准确地计算出芯片内部动作时间。
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“芯片内部动作时间的检测系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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