本发明实施例公开了一种存储器
芯片的检测方法、检测装置和检测系统，该检测方法包括：当存储器芯片上电初始化后，根据接收的使能信号控制存储器芯片自动进行早期失效测试流程；如果检测到存储器芯片自动进行的早期失效测试流程的次数达到预设测试次数，则判定存储器芯片为良品。本发明中存储器芯片与检测装置一一对应设置，量产的存储器芯片可通过各自对应的检测装置自行进行失效检测，因此检测并行度高、适用于大规模量产的存储器芯片的检测，存储器芯片在使能信号的控制下自动进行早期失效测试流程且不需要指令控制，因此检测耗时短，以及存储器芯片仅需要探针卡供电且不需要探针卡的指令控制信号，因此节省了探针卡的成本。
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“存储器芯片的检测方法、检测装置和检测系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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