本发明提供了一种液晶面板显示驱动
芯片的电性分析方法,该方法包括以下步骤:A、分析液晶面板显示异常的表现方式,寻找加电方式的依据;B、研究液晶面板显示驱动芯片的各引脚的功能,确定需要进行电性判断的引脚;C、根据芯片的引脚布局图和PCB板的引线布局图,确定在开盖前的电性测量位置,测量开盖前的电性;D、开盖后,使用探针直接探测芯片的引脚,进行加电测量,得出开盖后的电性特征;E、开盖前后的异常电性对比,判断失效点在封装级还是在晶圆级。本发明通过该种适合于液晶面板显示驱动芯片的电性分析方法,能够有效、合理地对开盖前后的电性特征进行比对,便于后续做出失效点是在封装级还是在晶圆级的判断。
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“液晶面板显示驱动芯片的电性分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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