本发明涉及一种医疗器械电控设备加速试验可靠性分析方法，获取对医疗器械电控设备样品进行加速试验所得的失效时间数据，根据所述失效时间数据对应的数据分布特征选取第一分布模型；对所述第一分布模型进行参数估计，得到第二分布模型；对所述第二分布模型进行拟合优度检验，若检验合格，根据所述第二分布模型对失效时间数据进行可靠性分析，能够有效提高加速退化试验数据的可靠性。
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来源：北方有色网
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