本发明公开了一种快速筛选
芯片失效风险的方法，把好品周围芯片的失效率做运算再判断，周边芯片失效率>87.5％中间的原好品判断为坏品,一颗好品周围有8颗芯片，其中失效7或是8颗测试为坏品，判断中间好品为坏品，一颗好品周围有7颗芯片，其中周围失效7颗，判断中间好品为坏品；本发明提供的快速筛选芯片失效风险的方法，将有潜在风险的芯片剔除，保证产品质量。
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“快速筛选芯片失效风险的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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