本发明提供一种嵌入式闪存失效的筛选方法，包括提供嵌入式闪存；在片擦除操作的数据擦除模式下，通过监控嵌入式闪存的控栅端的电压值变化，判断嵌入式闪存是否失效；当控栅端的电压值大于参考值时，判断嵌入式闪存的位线与控栅之间存在虚短路现象，以判定嵌入式闪存失效；当控栅端的电压值等于参考值时，判断嵌入式闪存的位线与控栅之间不存在虚短路现象，以判断嵌入式闪存有效。本发明能够快速检测嵌入式闪存是否失效，判断周期短，提高了筛选效率。
声明：
“嵌入式闪存失效的筛选方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
971
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
