本发明公开了一种嵌入式存储
芯片打线导致芯片失效的解决方法，包括主控芯片，主控芯片上设置有efuse模块；包括以下步骤：检测efuse PIN是否有效，若是，读取efuse前64bit数据，并检测efuse内有无数据或者第一、第二份数据均错，若无数据或者第一、第二份数据均错，跳过NAND BOOT进入EP0 INIT，进入主控芯片主循环；否，则读取ROM的pad配置表；若有数据或第一、第二份数据无错，则找到正确配置信息；若配置信息正确则根据efuse信息配置管脚，若配置信息不正确且efuse有数据且三份均为错，读取ROM的pad配置表；进入pad配置流程，进行NAND BOOT；进入主控芯片主循环；进入vendor efuse编程命令流程和等待host命令；有效解决嵌入式存储芯片打线偏差导致芯片失效，需重新定义芯片管脚功能的难题。
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“嵌入式存储芯片打线导致芯片失效的解决方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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