本发明提供了一种可视化的存储器
芯片修补分析程式检验方法和装置，所述方法包括：根据显示区域的参数显示存储器芯片包含的多个存储子模块的图形化结构，存储子模块包括多个阵列排列的存储单元；选取预设位置的存储单元为模拟失效存储单元，并记录模拟失效存储单元的位置；显示用于覆盖所述模拟失效存储单元的位置的失效单元显示标识；输入模拟失效存储单元的位置至修补分析程式中，得到修补方案，以获取修补存储单元的位置；显示用于覆盖所述修补存储单元的位置的修补单元显示标识；根据修补单元显示标识对失效单元显示标识的覆盖情况，生成分析报告。直观形象的展示了检验修补分析程式的整个过程以及检验结果，方便快捷且节省时间。
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“可视化的存储器芯片修补分析程式检验方法和装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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