本公开提供了一种失效测试方法、测试装置、测试设备和可读存储介质，涉及
半导体技术领域。其中，失效测试方法包括：向存储阵列中的存储单元周期性写入循环顺序移位的测试数据，其中，在一个测试周期，针对所述存储阵列中的激活字线，以指定突发长度的存储单元为写入单位写入所述测试数据，直至写完所述存储阵列，在下一个测试周期，对所述测试数据进行顺序移位，并将移位后的所述测试数据写入所述存储阵列，直至完成失效测试。通过本公开的技术方案，通过以指定突发长度的存储单元为写入单位写入测试数据，能够提升测试效率。
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“失效测试方法、测试装置、测试设备和可读存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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