本发明提供一种
芯片指令高速缓存失效的检测方法，所述方法为：1、在芯片指令高速缓存中预设复数个最小指令单元，2、根据宏函数的递归性，逐级创建宏函数单元，各级宏函数单元包裹有最小指令单元，且每一级宏单元不断的包裹前一级宏单元构成了一大函数，3、CPU内的逻辑运算单元ALU从高速缓存中获取大函数中所有的最小指令单元的指令进行执行，逻辑运算单元ALU访问高速缓存的每个比特，大函数中的指令会依次执行，大函数执行完成，则整个芯片指令高速缓存进行了遍历；4、根据大函数是否完成即能判断芯片指令高速缓存是否失效或者异常。本发明还提供了一种芯片指令高速缓存失效的检测系统，本发明提高检测效率，加快芯片检测的流通环节，省时省力。
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“芯片指令高速缓存失效的检测方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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