本实用新型公开了一种计量级3D超景深干涉显微系统，涉及光电无损3D检测技术领域；该显微系统包括光学显微镜、白光干涉传感器、xyz轴电动位移平台以及控制模块和PC处理器；xyz轴电动位移平台包括xy轴平移台和z轴升降模块，光学显微镜配置有照明光源和图像采集单元，控制模块包括xyz电动控制单元、与白光干涉传感器连接的白光干涉信号处理器以及电源模块，图像采集单元用于采集目标检测区域的图像信息，并将图像信息传输至PC处理器；通过实施本技术方案，能够无损观察样品，并能够超大面积对材料表面的微观状态进行拍照、3D真彩色成像及3D精准测量，实现计量级的检测精度，并保有微观样品的细节与真实颜色，具有很好的应用前景。
声明：
“计量级3D超景深干涉显微系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1149
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
