本发明公开了一种太赫兹器件用
碳纳米管取向度测量装置及方法。压板布置在底板的上面，定向排列碳纳米管阵列布置在基底，定向排列碳纳米管阵列和基底共同布置在压板和底板之间，且被压板和底板压紧在中间；压板上面铰接地安装有顶板；顶板上布置有多个转子电极，压板上布置多个和定向排列碳纳米管阵列接触的定子电极，转子电极上端连接电阻测量仪器的两端，转子电极下端穿过顶板后和压板上的定子电极电连接。利用碳纳米管的电学偏振性，通过简单、快速和无损的方法获取定向排列碳纳米管阵列的取向度，解决了现有技术中通过光学、扫描电镜等方式测量碳纳米管阵列取向度存在的破损、时间长等问题。
声明：
“太赫兹器件用碳纳米管取向度测量装置及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1089
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
