本发明涉及一种稻米参数自动测量装置及方法,本装置由预设的计算机控制,采用单株脱粒仪将稻穗脱粒,谷粒由单株脱粒仪通过直槽式接口落到皮带上,由运转的皮带分离谷粒;由X-RAY成像系统拍摄X射线透射图,由计算机将所得图像进行处理,得到稻米的各项参数。本发明利用X射线成像的方法,用数字图像处理技术处理拍摄到的图像,得到稻米的各项参数,无需对脱粒后的谷粒进行去壳处理,且将脱粒、参数提取集成到一个系统中,具有安全无损、测量结果准确可靠,操作简单等优点。
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来源：北方有色网
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