本发明公开了一种粉末状
半导体材料电导率的测量方法。利用基于栅状电极的电导率测试装置，方法如下：于栅状电极蚀刻槽中，滴加已知标准电导率的标准电解质溶液，通过
电化学工作站测定标准电解质溶液的电阻；计算电池常数；于栅状电极蚀刻槽中，添加待检测粉末状半导体材料，用玻璃压片压严，通过电化学工作站测定待检测粉末状半导体材料的电阻；计算待检测粉末状半导体材料的电导率。本发明原理简单，设备均为实验室常见测试仪器和材料，搭建和测试成本低且简单易行，可测半导体种类多，且测试中对材料无损害可回收，数据处理简便，结果准确。本发明为测量半导体材料电导率提供了新的手段，给科研工作带来了很大的便利。
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“粉末状半导体材料电导率的测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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