本发明涉及无损检测领域，具体涉及一种用于相控阵超声探头晶片有效性的测试及评价方法。采用相控阵超声仪器激发相控阵探头晶片中每个晶片产生超声波入射到相控阵探头楔块底面产生的回波信号，通过回波信号的幅度判定晶片的有效性。本发明方法操作简单、实用，便于携带，无辐射，无污染，在检测过程中能及时测试晶片的好坏，能保证检测灵敏度和检测结果的准确性，也能提高检测效率。适宜作为相控阵超声探头晶片有效性的测试及评价方法的应用。
声明：
“用于相控阵超声探头晶片有效性的测试及评价方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1369
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
