本发明提供一种光窗电磁屏蔽效能原位测试装置及方法，属于电磁性能测试技术领域。该装置基于介质谐振器，利用介质谐振器
储能与耗能的关系测量出光窗内部导电网栅的等效微波表面电阻，进而计算出导电网栅的等效电导率，根据电导率与电磁屏蔽效能的关系获得光窗的电磁屏蔽效能。该装置能够在单侧加载传感器且不接触导电网栅的情况下实现光窗屏蔽效能的无损测试，为服役条件下光窗的维护保养提供重要的技术支撑。
声明：
“光窗电磁屏蔽效能原位测试装置及测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
968
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
