本发明公开了一种基于机器视觉的电子元件检查方法，包括如下步骤：步骤一、收集电子元件表面的损害图像样本和电子元件无损害的图像样本，同时收集电子元件表面的损害图像样本对应的超声波探伤信号以及电子元件无损害的图像样本对应的超声波探伤信号；步骤二、对电子元件表面的损害图像的损坏种类进行人工标注，得到标注后的电子元件表面的损害图像样本。本发明实现了对电子元件的视觉检测与超声检测相结合的自动检测方法，通过两种检测方法结合，大大提高了检测的准确性，此外实现了电子元件的自动检测，节省了人工，有效降低了漏检率。
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来源：北方有色网
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