本公开实施例公开了一种涂层厚度检测系统及方法。其中，涂层厚度检测系统，包括：恒温腔体、移动机构和测量机构；移动机构和测量机构设置在恒温腔体内；测量机构设置在移动机构上，测量机构在移动机构的带动下在恒温腔体内移动，测量机构对被测量物的涂层厚度进行测量，测量机构基于光热法对涂层厚度进行测量。光热法没有辐射，实现对人体无辐射损伤危害，不用接触被测量物，实现对被测量涂层厚度的非接触无损伤测量，受被测量涂层的平面和基材影响较小，可实现在曲面、粗糙的表面和不同厚度的基材上测量，受系统的振动幅度、被测距离控制精度和测量角度精度的影响较小，能够有效减少外界因素对测量的影响。
声明：
“涂层厚度检测系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1002
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
