本申请提供了一种大米加工精度的检测方法、装置、电子设备及介质；所述检测方法包括以下步骤：获取包括随机放置的多粒目标大米的初始大米图像，从中提取出每个单粒目标大米的目标图像；根据目标图像，提取出每个单粒目标大米的多个特征参数；特征参数包括颜色特征参数和纹理特征参数，纹理特征参数是根据目标图像中像素点的灰度和梯度提取得到的；对多个特征参数进行降维融合处理，得到多个目标融合特征，多个目标融合特征的累计贡献率大于预设累计贡献率阈值；将多个目标融合特征输入至训练好的检测模型，得到每个单粒目标大米的加工精度检测结果，从而快速、无损、客观、准确的确定大米加工精度。
声明：
“大米加工精度的检测方法、装置、电子设备及介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1061
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
