一种
贵金属无损检测系统,由X荧光光谱仪连接计算机;密度测量仪连接在电子天平上再连接计算机。其密度测量仪是在电子天平座表面上有电子天平盘和静支架,静支架连接静托盘,静托盘上透明容器,透明容器内有吊具,吊具由吊丝连接在上方的干重称重盘上,干重称重盘置放在动支架顶部,动支架下端连接动托盘,动托盘在电子天平盘上。此系统其特点:X荧光光谱仪除测量样品表面层的成分和各元素的含量外,要由此数据计算出含有该成分的均匀合金的密度。密度测试仪装置样品的真实密度与计算出的均匀合金密度相比较,判断样品是真实合金还是仅外层包裹有合金的方法。彻底解决对贵金属层的样品的错误检测。
声明：
“贵金属无损检测系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1181
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
