本申请涉及无损检测的技术领域公开了一种相控阵无损检测试块支架，其包括圆弧形的支架本体和试块，支架本体上开设有容纳试块的凹槽，试块位于凹槽中，试块上固定连接有连接杆，凹槽的槽底上开设有供连接杆穿过的通孔，连接杆远离试块的一端穿出通孔，连接杆上开设有第一条形孔，第一条形孔中插接有楔形块，楔形块与支架本体抵触。本申请通过设置支架本体、试块、连接杆和楔形块，减少了工作人员将试块安装至凹槽中所需时间，进而提高了工作人员将试块安装至凹槽中的工作效率。
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“相控阵无损检测试块支架” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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编辑：管理员
来源：北方有色网
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