本发明提出一种二维二硫化钨薄膜晶界的鉴别方法。包括以下步骤：将S粉末放置在第一石英舟中，WO3粉末放置在第二石英舟中；将待鉴别的二维二硫化钨薄膜样品放入第三石英舟中；分别将三个石英舟放置在化学气相沉积系统的石英管内，通入氩气作为载流气体，并加热对二维二硫化钨薄膜进行二次生长，得到晶界明显的二维二硫化钨薄膜；利用光学显微镜直接观测得到的二维二硫化钨薄膜样品，可以明显分辨出二维二硫化钨薄膜的晶界。本发明操作简便，精确度高，对设备要求低，避免了用复杂的高精度仪器来探测二维材料的晶界。
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来源：北方有色网
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