本发明提供了分析颗粒的表面性质的方法和装置。分析颗粒的表面性质的方法包括使第一个颗粒与对第一种化学物类具有特异性结合亲和性的第一个捕获区相结合,对第一个颗粒施加光学力,感应第一个颗粒对光学力的响应,以及使用感应到的响应来确定第一个颗粒表面上第一种化学物类的存在、不存在或量。该过程可以并行地重复,以测试多个颗粒。除了直接测试颗粒的表面性质之外,本方法可用于直接、间接和竞争性分析,以确定游离的或固定化的分析物的存在、不存在或数量。提供了带有具有亲合力的捕获区的流体盒,它们被调整以使用光学力。还提供了执行该方法的软件程序。
声明：
“通过光学操作与功能化表面有关的颗粒进行表面作图” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1079
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
