本发明公开了一种玻璃配合料均匀度的X荧光测定方法, 依次包括以下步骤：根据配合料组成成分，用原材料配制一个标准样品利用硼酸或者淀粉作为粘合剂，将标准样品于压片机上在一定的压力和时间下进行压制成片。将标准样品片在X荧光光谱仪上采用基本参数法(FP法)，建立灵敏度系数标准曲线。取10‑12个配合料待测样品，与标准样品压片过程同样的处理压制成片，将所得样片于X荧光光谱仪上依据标准样品的灵敏度系数曲线检测各个样片中的化学成分含量，计算化学成分的RSD, 进而计算配合料的均匀度。本发明的测定方法避免了现有方法的繁琐程序，以及以单一成分的均匀度概括玻璃配合料整体均匀度的缺点，简便、快捷、全面、高效。
声明：
“玻璃配合料整体均匀度的熔片X荧光测定方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1171
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
