本发明公开一种双能X射线测量地层密度测井装置和方法，具体涉及石油及天然气勘探领域。该装置采用X射线管、电子加速管、监测探测器、远近两个NaI探测器。首先，利用监测探测器确保X射线产额稳定。然后，利用X射线在地层衰减原理，建立地层电子密度与高、低能窗计数的响应关系，从而计算精确的地层电子密度，通过地层电子密度与地层密度关系进一步计算地层密度。本发明通过采用监测探测器确保X射线产额稳定等手段，同现有方法相比获得了更为准确的计算基础，从而可以计算出准确的地层密度。另外，本发明装置还克服了对化学源的使用，更加健康、安全和环保，并有效降低了对电子加速管和探测器等的工艺要求。
声明：
“双能X射线测量地层密度测井装置和方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
885
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
