本发明为一种用于绝缘体
核材料中氧同位素的SIMS测量方法，其过程为：将铀氧化物微粒转移到石墨碳片上，制备成样品；对测量过程中需要用到的设备进行调试；测量铀氧化物微粒的氧同位素，并计算18O/16O的比值；校正测量值并计算不确定度；更换标样并卸载程序。这样，不需要进行样品的化学处理，可直接进行测量，使得分析速度更快、样品制备简单、样品用量也更小；同时SIMS具有微区分析和深度剖析的能力，可对样品的不同区域和不同深度的地方进行氧同位素的测量；SIMS通过接收O-进行测量，不需要转化CO2气体再测量，减少了中间环节，减少了最后结果不确定度的引入因素，能够满足核法证学关于快速、准确分析的特点。
声明：
“用于绝缘体核材料中氧同位素的SIMS测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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