本发明提供了一种基于量子点‑纳米通道的
铜离子检测方法，包括步骤：制备CdSe@ZIF‑8/PAA膜；利用所述CdSe@ZIF‑8/PAA膜制成与倒置荧光显微镜适配的
芯片，所述芯片包括储液池，所述CdSe@ZIF‑8/PAA膜位于所述储液池内，其中，所述储液池内还置有工作电极，所述工作电极与
电化学工作站电连；在所述储液池中加入电解质溶液和Cu
2+溶液，所述电化学工作站施加电位实现Cu
2+富集，通过所述倒置荧光显微镜对所述储液池进行荧光光谱扫描，并获取光谱信号，实现对Cu
2+的检测。本发明提供的检测方法，便于操作且成本低，且既能检测到痕量的铜离子，也能使检测过程可视化。
声明：
“基于量子点-纳米通道的铜离子检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
821
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
