一种对样品进行纳米识别的装置和方法，包括：借助于倏逝波来测量在样品与在样品上方的某纳米距离处振荡的光学纳米天线之间的近场相互作用的光谱，并且鉴别对这样的近场相互作用不敏感的背景背散射的辐射。鉴别可以通过在不知道隔开纳米天线与样品的距离的情况下于纳米天线振荡的周期性重复的时刻进行的光学数据采集来实现。测量包括对纳米尺度的样品进行的化学识别，在该测量期间，代表着所述相互作用的与近场辐射对应的相位的绝对值被直接测得，没有偏移。装置和测量的校准通过在样品测量之前执行对具有已知的折射率的参考样品的参考测量来提供。纳米识别以50nm以内的分辨率来实现，并且可选地，被实现于光谱的中红外部分内。
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“使用归一化近场光谱对样品的化学纳米识别” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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