本发明属于化工分析处理技术领域，涉及一种X射线荧光光谱法分析
氢氧化铝中成分含量的方法、氢氧化铝及其应用。本发明的X射线荧光光谱法分析氢氧化铝中成分含量的方法，包括以下步骤：研磨；粉末压片；采用X射线荧光光谱法，测定样片中各成分的发射强度，利用已建立的各成分的工作曲线，进行待测氢氧化铝样片中Al
2O
3、Fe
2O
3、SiO
2和Na
2O含量的分析。本发明方法操作简单，分析速度快，可同时分析氢氧化铝中Al
2O
3、Fe
2O
3、SiO
2、Na
2O四项成分，通过确认该方法具有科学性、先进性、适用性、分析时间短、准确度高、重复性好、无污染等特点；重复性和再现性均优于国家标准的氢氧化铝中化学成分的测定方法。
声明：
“X射线荧光光谱法分析氢氧化铝中成分含量的方法、氢氧化铝及其应用” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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