本实用新型涉及一种快速变化压力的电子元件特性的检测装置，包括机架，在机架上设置检测平台，检测平台上方设有压力生成单元，在检测平台下方设有设备控制单元，在机架上设有设备移动单元，设备控制单元用于控制压力生产单元以及设备移动单元，设备移动单元用于控制压力生成单元的移动。采用了上述结构之后，使得在对显示屏进行点触测试时，不会产生刚性接触，保证产品性能检测的准确性，通过装置进行全自动化的进行操作。
声明：
“快速变化压力的电子元件特性的检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
795
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
