本申请公开了一种磁铁片检测方法、系统、设备及计算机可读存储介质，获取待检测磁铁片的目标图像；获取预设的待检测区域模板；基于间接平差方法，在目标图像中确定与待检测区域模板对应的待检测区域；计算待检测区域的灰度值信息；基于灰度值信息及预设阈值，确定待检测磁铁片的检测结果。本申请中，通过间接平差方法可以快速在目标图像中确定与待检测区域模板对应的待检测区域，并且只需计算待检测区域的灰度值信息，便可以基于灰度值信息及预设阈值，确定待检测磁铁片的检测结果，快速对待检测磁铁片进行性能检测。本申请提供的一种磁铁片检测系统、设备及计算机可读存储介质也解决了相应技术问题。
声明：
“一种磁铁片检测方法、系统、设备及计算机可读存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1252
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
