本发明公开了一种基于VHDL‑AMS退化模型的板级电路寿命预测方法，先分析元器件的失效模式和失效机理，建立元器件的数学退化模型，再利用matlab工具对数学退化模型进行拟合，得到最优的退化轨迹从而建立元器件的VHDL‑AMS模型，最后通过对VHDL‑AMS模型进行仿真，实现了元器件退化的板级电路性能检测及寿命预测。
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“基于VHDL‑AMS退化模型的板级电路寿命预测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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