本发明公开了一种集成电路IO特性智能测试仪，其特点是该测试仪由单片机、可调电源模块、LCD触摸显示模块、继电器模块和电流检测模块组成，将待检测
芯片串接在继电器模块和电流检测模块之间，对芯片的ESD二极管进行性能检测，所述单片机与可调电源模块、LCD触摸显示模块、继电器模块和电流检测模块连接；所述电流检测模块与可调电源模块连接；所述继电器模块采用117路继电器连接八个4转16译码器。本发明与现有技术相比具有测试误差小，防止信号串扰，有效避免电源倒灌，测试方便，降低测试过程中误操作对芯片造成的危害。
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来源：北方有色网
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