本发明公开了一种eMMC质量检测修复方法、装置及存储介质，其中该方法包括：读取eMMC
芯片的协议版本信息及生产日期，非失真寄存器及只读信息，获取所述eMMC芯片的第一质量状态；读取所述eMMC芯片的数据存储区，判断是否全为默认值，提取分区特征，获取所述eMMC芯片的第二质量状态；对所述eMMC芯片进行读取擦除性能检测，获取所述eMMC芯片的第三质量状态；根据第一质量状态、第二质量状态及第三质量状态生成所述eMMC芯片的质量评估结果；根据所述质量评估结果，对所述非失真寄存器开启的功能进行关闭，通过擦除命令修复数据存储区，并对读写性能进行修复。简要描述技术效果。本发明通过多种方式检测，检测修复的覆盖面广，准确率高，贴近用户实际使用需求。
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“eMMC质量检测修复方法、装置及其存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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