本实用新型公开了一种连续检测射频部分中
芯片电性能的检具，龙门架（5）横梁的底部固设有水平气缸（12），水平气缸（12）活塞杆的作用端上固设有连接板（13），真空盘（14）的左侧壁上焊接有与其内腔连通的真空管（15），真空盘（14）与
真空泵（20）连接；龙门架（5）横梁的顶部固设有升降气缸（16）和电性能检测设备（17），升降气缸（16）的活塞杆贯穿横梁设置，且延伸端上固设有升降板（18），电性能检测设备（17）的两个接触头（19）均固设于升降板（18）上，且两个接触头（19）均贯穿升降板（18）设置。本实用新型的有益效果是：极大提高射频部分中芯片的检测效率、极大减轻工人工作强度、操作简单。
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来源：北方有色网
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