本发明涉及电子器件制造领域，特别是涉及一种电子元件的检测设备。一种电子元件的检测设备，包括机架、上料机构、撕膜机构、搬运机构、多个检测机构、收料机构、第一翻转模块及第二翻转模块，上料机构内承载有待测的工件，撕膜机构连接于所述机架并设于所述上料机构的一端，用于撕下工件上的薄膜，多个检测机构分别设于机架上，搬运机构能够将完成撕膜的工件依次搬运至各个检测机构进行性能检测，收料机构设于检测机构的一侧并，搬运机构将完成检测的工件搬运至收料机构内。本发明的优点在于：实现电子元件的性能检测，实现自动化检测，提高效率。
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来源：北方有色网
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