本发明提供的一种电子元件性能数据检测方法，涉及数据处理技术领域。在本发明中，获取性能检测设备对多个待检测的电子元件分别进行的多次性能检测处理得到的多组性能检测数据，其中，每一组性能检测数据包括对应的一个电子元件通过进行多次性能检测得到的多条性能检测数据，性能检测设备用于在检测得到性能检测数据之后发送给性能数据处理服务器；基于多组性能检测数据，确定性能检测设备是否存在异常；若确定性能检测设备不存在异常，则对多组性能检测数据进行解析处理，得到每一个电子元件的性能是否存在异常的解析结果。采用以上步骤对电子元件的性能检测异常解析，可以使得得到的解析结果具有较高的可靠性。
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来源：北方有色网
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