本发明涉及一种用于半导体
芯片检测的转盘载料机构，它包括机架、配电控制箱和操作显示屏，机架上设置有中部转盘检测装置和侧部转盘检测装置，中部转盘检测装置包括中部转轴，中部转轴套接有中部检测转盘和中部安装转盘，中部检测转盘上开设有检测孔，且中部安装转盘上安装有穿出检测孔的取料装置，侧部转盘检测装置包括与侧部转动电机连接的侧部转轴，侧部转轴上套接有侧部转盘，侧部转盘上设置有与半导体芯片配合的载具，侧部转盘位于中部转盘的下部，侧部转盘上的一个载具与穿过中部转盘的一个取料装置对接；本发明通过中部转盘检测装置和侧部转盘检测装置相互配合，实现半导体芯片的多个检测工序一体化进行，极大的提高了检测的效率，降低了检测工时。
声明：
“一种用于半导体芯片检测的转盘载料机构” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
827
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
