本实用新型公开了一种半导体
芯片用的电性能检测设备，包括底座，所述底座的顶部对称固定安装有两个输送组件，单个所述输送组件的外表面安装有电机，两个所述输送组件之间共同安装有传动轴，两个所述输送组件均安装有多个连接件，相邻两个所述连接件之间共同安装有放置槽，所述底座的顶部一侧固定连接有支架，所述支架的顶部安装有伸缩杆，所述伸缩杆的活动端固定安装有检测板。本实用新型中，整体采用流水线式设计，对半导体芯片的检测更为迅速，能够满足一些大公司的检测需求；再通过设置的连接件和可拆卸的转换板，可以根据不同型号规格的半导体芯片更换相应的放置槽、转换板和探针板，从而增加整体适用性。
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“一种半导体芯片用的电性能检测设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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来源：北方有色网
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