本发明提供了一种可控硅
检测仪，可控硅检测仪包括：一个电源模块、一个相位角选择模块、一个触发信号生成模块和一个信号检测模块；电源模块用于输出交流电压信号；相位角选择模块用于根据人员设置的触发相位角，对交流电压信号进行缺失处理，以使交流电压信号对应的正弦波形产生缺失，且缺失部分对应的相位角与触发相位角相同；触发信号生成模块用于将缺失处理后的交流电压信号转换为对应的方波触发信号，并将方波触发信号加载到待测可控硅的控制极上；述电源模块还用于为待测可控硅的正负极施加交流电压信号，信号检测模块用于对待测可控硅的正负极和电源模块所形成回路中的电路信号进行检测。本发明提高可控硅性能检测的准确性。
声明：
“可控硅检测仪及可控硅性能检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1142
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
