本发明提供一种基于地质走向分析的变面元平面插值方法，包括：步骤1，输入平面散点数据；步骤2，对于步骤1输入的平面散点数据，根据分析精度要求定义分析网格，在分析网格内通过计算不同方位最小方向导数确定为该点地质走向；步骤3，以步骤2中得到的地质走向为长轴方向，设计椭圆形插值面元；步骤4，以步骤3中定义的插值椭圆为分析面元，进行地质方向约束的平面散点数据插值；步骤5，利用步骤4中得到的插值数据，勾绘等值图并进行地质验证。该基于地质走向分析的变面元平面插值方法使预测结果更加符合地质规律，提高了地质研究人员利用预测结果进一步分析解决地质问题的准确性。
声明：
“基于地质走向分析的变面元平面插值方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1042
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
