本发明公开了一种优化薄互层储层地震响应特征分析的方法、系统、存储介质及电子设备，其中方法包括以下步骤：根据靶区地质数据、地震数据及测录井数据，构建地下薄互层结构理论模型；基于薄互层结构理论模型，进行正演模拟，获得正演模拟记录数据；对正演模拟记录数据中地震波场信息进行偏移成像，获得理论模型对应的地震偏移剖面；从地震偏移剖面中分别提取地震响应特征进行对比分析，获得不同薄互层结构类别的地震响应特征；根据理论模型和地震响应波形特征，构建薄互层结构简化模型；再进行薄互层储层地震响应特征分析。本发明提供的方法提高了薄互层模型建模速度，从而提升了地震响应特征分析的效率。
声明：
“薄互层地震特征分析的方法、系统、存储介质及电子设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
1026
编辑：管理员
来源：北方有色网
咨询细节
