本发明公开了一种铁矿石的X荧光分析方法，1）所述的分析方法中采用的仪器主要包括：荧光光谱仪和粉末压片机，所述的粉末压片机的最大压力为50t；2）所述的分析方法中采用样品的制备：样品经粉碎研磨后，制成粒度为200目或200目以上粉样，称取粉样9.5～l0.0g于制粉器中，然后用硼酸作边，在粉末压片机上进行压片，在大于或等于40t的压力下保压40s或40s以上的时间，制成样片；将样片装入样盒，按设定的分析条件，在X荧光光谱仪上进行分析。采用上述技术方案，使铁矿石成分分析简便、快速，提高效率、精密度和准确度，能够满足生产需要。
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来源：北方有色网
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