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本申请提供了一种设备故障的预测方法及相关装置，包括：基于目标设备的故障数据构建所述目标设备的初始失效概率密度函数；根据所述目标设备的失效率曲线确定所述失效率曲线中用于划分所述目标设备早期故障期和随机故障期的时间节点；基于所述时间节点确定所述初始概率密度函数的曲线中的时间拐点；将所述时间拐点作为起始点构建失效概率密度函数，得到目标失效概率密度函数；根据所述初始失效概率密度函数和所述目标失效概率密度函数的整体残值预测所述目标设备的平均故障间隔时间。利用以往的故障数据扩充样本容量，又能准确预测现有设备的可靠性指标。
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本发明涉及一种光伏逆变器剩余寿命预测方法，其包括以下步骤：步骤1：针对光伏逆变器定义多种失效参数；在不同工作条件下采集失效参数的时间序列数据；步骤2：对失效参数的时间序列数据进行预处理；步骤3：构建CNN‑LSTM网络，利用预处理后的失效参数时间序列数据训练和验证CNN‑LSTM网络，得到训练后的CNN‑LSTM网络；步骤4：在寿命预测时刻，获取光伏逆变器的失效参数的实时数据，并利用训练后的CNN‑LSTM网络得到失效参数的预测数据，从而对光伏逆变器的剩余寿命进行预测。本发明建立了逆变器中最易失效元器件与光伏逆变器之间的影响关系，并考虑环境温湿度等影响因子对光伏逆变器的影响，基于CNN‑LSTM网络混合模型，实现逆变器寿命预测精度的提高。
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本发明公开了一种用于PBGA封装器件在热振耦合环境下进行寿命测试的方法，该方法将单个测试器件的所有焊点依次串联形成一条开环的菊花链电路，对100～200个均形成开环电路的测试器件进行等分分组并固定于三综合试验台上，依据标准对测试器件进行温度循环试验和随机振动试验，同时监测电阻值以判定焊点是否失效并获得焊点的失效时间，当测试器件的失效数量满足指定失效数量时停止试验。通过改变随机振动试验的量值并重新试验以获得不同应力条件下的失效时间，根据威布尔分布拟合获取PBGA封装器件热振耦合环境下的寿命。
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本申请涉及一种车辆部件剩余使用寿命预测方法、装置、设备和存储介质。该方法包括：根据多个样本车辆的失效运行数据，提取各样本车辆的与车辆部件失效相关的特征信息以及所述车辆部件的失效里程；使用各样本车辆的特征信息和对应的失效里程对线性回归模型进行训练，得到预测模型；根据所述预测模型预测目标车辆的车辆部件的剩余使用寿命。该方法能够通过车辆的大量失效运行数据来训练线性回归模型，将车辆运行大数据与线性回归模型结合起来，建立一种基于大数据的车辆部件剩余使用寿命的预测模型，从而提高了预测结果的准确率。
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本发明公开了一种面向GUI软件的可靠性加速测试方法，步骤如下：1、提取标识词与特征，形成标识词链和特征集合；2、进行等价类划分；3、将每一步输入内容归到相应等价类下；4、将基础测试用例集合划分为各类结构信息与内容信息均相同的测试用例集合；5、根据映射关系，将测试用例的每一步输入内容转化为失效信息或者正常信息，并进行标识；6、按序执行测试，筛选各类测试用例执行效果为失效和第一个执行效果为正常的测试用例；7、累加相邻失效间隔之间用例的执行时间作为失效数据进行软件可靠性评估。优点：基于运行分类的思想，减少测试用例数量和测试时间提高GUI软件可靠性测试效率，保证失效数据可进行定量的软件可靠性评估。
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本申请涉及一种底盘线控测试方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：执行测试用例，根据测试用例发送控制指令至底盘虚拟系统，以指示底盘虚拟系统按照所述控制指令对线控对象进行控制；实时接收底盘虚拟系统返回的车辆状态信息；根据测试用例发送线控失效控制指令；根据车辆状态信息及线控失效控制指令得到测试结果。该方法包括：接收测试端发送的控制指令，根据控制命令对线控对象进行控制；接收线控失效控制指令，根据线控失效控制指令控制对应的线控对象；实时采集线控对象对应的车辆状态信息，将车辆状态信息实时发送给测试端，车辆状态信息用于测试端根据线控失效控制指令得到测试结果。采用本方法能够提高测试效率和安全性。
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本发明提供了一种晶圆测试结果图标记修改方法，包括：第一步骤，用于根据晶圆测试结果图自动生成晶圆测试结果图文本文件；第二步骤，用于利用Excel?Macro程序对生成的晶圆测试结果图文本文件进行自动识别以标记出不合格的失效裸片；第三步骤，用于在Excel?Macro程序中针对失效裸片自动对围绕失效裸片的合格晶圆进行附加标记；第四步骤，用于利用Perl?script程序对附加标记后的晶圆测试结果图文本文件进行格式转换。
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本发明是一种基于微分方程的蓄电池内阻测量方法,通过连接方波发生器,测定方波发生器接通情况下即将断开瞬间其两端的电压,方波发生器断开时即将接通瞬间其两端的电压,方波发生器断开情况下接通瞬间的电压,并通过公式计算获得蓄电池的欧姆内阻值和极化电阻值,用以判定蓄电池的失效程度。本方法能够更精确地反映蓄电池内阻的变化,从而更准确地判断蓄电池的失效程度。与原有测量方法相比较,本发明的计算方法更加简便,测量结果更加可靠。
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本发明公开了一种硅片级别的频率测试方法,是在专门进行存储器类型芯片测试的测试仪,即存储器测试仪上利用其自身带有的失效地址内存资源进行频率测试,至少包括以下步骤为:选择扫描频率,对待测波形进行扫描;选择参考电压,将扫描得到的模拟信号转化为数字信号;利用失效地址资源对上述数字信号进行存储;对存储的数据进行处理,计算出固定时间内的周期个数,最后进行频率计算。本发明是直接利用存储器类型测试仪进行频率测试,扩展了存储器测试仪的测试功能、提升了其利用率,降低了测试成本。
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本申请公开了一种服务器合格率测试方法，包括：根据单机独立性规则对待测试服务器执行静电放电故障测试，得到测试数据；根据测试数据的静电失效种类判断是否存在永久性失效的待测试服务器；若是，则输出产品不合格消息；若否，则根据测试数据进行合格率测算，得到合格率等级。通过单机独立性规则对待测试服务器执行测试，然后得到相应的测试数据，根据是否为永久性失效判断是否为产品不合格，若不是永久性失效则进行对应的合格率测算，得到合格率等级，剔除了静电单机故障的影响，提高了合格率测试的准确性。本申请还公开了一种服务器合格率测试装置、测试设备以及计算机可读存储介质，具有以上有益效果。
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本申请涉及基于半导体测试参数阈值调整的数据展示方法及装置，所述方法包括：响应于用户针对至少一个晶圆所选择的测试参数及所述测试参数对应的第一阈值范围，确定所述至少一个晶圆分别在所述测试参数对应的第一阈值范围内的第一良率数据和/或所述至少一个晶圆分别针对所述测试参数的第一失效数据，所述第一失效数据包括所述至少一个晶圆中由于所述测试参数而失效的裸片的位置；在数据可视化界面中展示所述第一良率数据和/或所述第一失效数据。通过在数据可视化界面中展示用户所选择的阈值范围所对应的良率和/或失效数据，使得用户清晰、直观地了解到所选择的阈值范围对晶圆良率数据和/或失效数据的影响，进而帮助用户选择合适的阈值范围。
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本发明公开了一种带存储单元的集成芯片的复测方法，包括如下步骤：步骤一，通过读取CP1通过标记，判断芯片是否做过并完全通过上次CP1测试；若通过则测试继续进行，若失效则测试结束，返回失效结果；步骤二，通过读取CP2通过标记，判断芯片是否做过并完全通过上次CP2测试；若通过则测试结束，返回通过结果；若失效则测试继续进行；步骤三，通过读CP2第一数据保存标记，判断是否需要进行数据保存功能测试；若需要则测试继续进行，若不需要则测试结束，返回失效结果；步骤四，通过写及读CP2第二数据保存标记，验证CP2第二数据保存标记，以便复测时判断数据保存功能是否失效。本发明能够保证测试结果的准确性并节省复测时间。
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本发明涉及一种测试NMOS热载流子注入寿命的方法,包括以下步骤:步骤1、测试系统将测试电压应力加到被测器件的漏极,该测试电压的值为穿通电压的60%～70%之间;步骤2、漏极所加电压应力时的最大基底电流所对应的栅压为栅极电压应力,通入此栅极电压应力,得到被测器件漏极电流的退化图;步骤3、测试系统对步骤2中的数据进行拟合得到被测器件失效时间,当器件退化到5%以上,利用外差推算得到器件的失效时间;然后用公式TTF*Ids=C*(Isub/Ids)m计算热载流子注入的寿命。采用本发明的技术方案可以快速地得到NMOS热载流子注入的寿命,大大缩短测试时间,而且不需要封装晶片,节省了成本。
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本发明揭示一种测试设备或治具的异常维护监控系统,该系统包括:一记录生成模块,用以生成包含若干失效数据的测试设备或治具的失效记录并发送,该若干失效数据至少包括一标记该测试设备或治具为停止状态的数据;一数据库,其包括一对应关系表,该对应关系表包括上述若干数据所对应联系人的联系方式;一维护监控模块,其包括一通知单元,该维护监控模块接收上述失效记录,并根据该失效记录所包含的上述若干数据在上述对应关系表中找出对应的联系人的联系方式,该通知单元通过该联系方式通知该对应的联系人。维修工程师能及时有效地对测试设备或治具进行维修,节省维修时间。
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本发明为一种存储器辐照测试方法以及实现该方法的装置,其包括:辐射源、电平转换电路、主控单元、数据输入单元以及系统配置和处理单元。用以实现对存储器件的动态辐照测试,首先进行初始化操作,对至少一被测存储器件写入指定数据,然后开启辐射源对被测存储器件进行规定强度、规定距离、规定时间的辐照;在测试过程中根据特定的读写模式向所述被测存储器件读出数据/写入数据;实时的将被测存储器件的实际输出值和预期值进行对比,判断其是否正确;一旦出现错误数据,立刻记录其失效信息;一次实验就能找到被测存储器件失效的临界点。从而达到整个过程都在同步动态记录,减少了实验次数,节约测试成本的目的。
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本发明提供了基于MLE和蒙特卡罗仿真的卫星寿命预测方法。该方法将卫星失效分为随机失效和耗损失效两大类，建立随机失效产品的寿命模型，根据卫星随机失效产品各单机失效率和其可靠性逻辑关系，采用蒙特卡罗仿真方法，求得卫星系统随机失效的首次故障前平均时间MTTF，由此获得卫星系统随机失效可靠性函数R随机(t)；建立耗损失效产品的寿命模型，根据卫星耗损失效产品各单机可靠性逻辑关系及其耗损寿命均值和方差，利用蒙特卡罗仿真方法，计算得到卫星耗损寿命的均值和方差估计，由此获得卫星系统耗损失效可靠性函数R耗损(t)；将卫星系统随机失效和耗损失效函数进行综合解析，得到卫星平均任务持续时间MMD，以此作为卫星系统的寿命预测结果。该方法计算准确客观。
一种基于自测试的1553总线接口电路快速筛选系统及方法，用于对Mini‑ACE系列1553总线接口电路在完成MCM封装后做功能异常筛选，剔除协议失效和存储器失效电路。系统包括：一次供电、二次供电、主控处理器、I/O输入输出、逻辑解码、VGA控制器、结果提示和显示器。主控处理器按照对应的筛选模式通过待测电路的HOST接口顺序对其输入筛选激励：启动RAM测试‑停止RAM测试‑启动协议测试‑停止协议测试，根据筛选情况将结果通过提示模块和显示器输出给筛选人员。本发明用于具有自测试功能的1553系列接口电路的生产过程，可在早期剔除失效电路，避免了在生产过程中对失效电路进行常规的反熔丝结构熔烧、三温测试和有效性测试等工作，大大减少了工时浪费，提高了生产效率及产能。
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本发明公开了一种设备平均寿命的预测方法及系统。所述方法包括：获取设备的退化数据、失效数据和截尾数据；依据设备的个体差异参数和测量误差参数，建立退化模型；构建加速退化模型；依据退化模型和加速退化模型构建失效率模型；依据退化数据，对退化模型中的第一待估参数进行估计；采用最小二乘法对加速退化模型中的第二待估参数进行估计；依据失效数据、截尾数据、第一待估参数的估计值和第二待估参数的估计值，对失效率模型中的第三待估参数进行估计；利用确定第三待估参数后的失效率模型对设备的平均寿命进行预测。本发明考虑了设备的个体差异性和数据测量误差的影响，提高了设备平均寿命预测结果的准确性。
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本发明涉及一种增压器涡轮疲劳寿命预测及其可靠性评价方法,通过计算与涡轮相匹配发动机耐久性试验剖面的四种主要工况,计算增压器对应发动机四种不同工况的平均转速,计算确定涡轮的危险部位以及涡轮危险部位对应四种不同转速的四个应力,计算涡轮材料疲劳寿命(或对数疲劳寿命)的均值和标准差与应力之间的函数关系,计算对应四个不同应力的涡轮疲劳寿命(或对数疲劳寿命)的均值和标准差,确定涡轮对应疲劳失效模式的功能函数,计算涡轮疲劳失效模式功能函数的均值和标准差,即可对涡轮的疲劳寿命进行预测和可靠性评价,并且能够计算出涡轮疲劳可靠度和失效率随疲劳寿命的变化规律,可以更好地指导涡轮的结构设计和合理地确定涡轮的使用寿命。
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本发明涉及一种基于深度学习耦合建模的飞机发动机剩余寿命预测方法，包括：获取飞机发动机的多元传感器失效信号，载入深度学习耦合模型中，获取飞机发动机随时间演变的潜在失效状态分布，得到剩余使用寿命的分布结果，实现飞机发动机的剩余寿命预测；深度学习耦合模型包括失效过程模型和融合模型，失效过程模型用于描述飞机发动机随时间演变的潜在失效状态，融合模型用于结合多元传感器失效信号，构建发动机的健康指数HI。与现有技术相比，本发明充分考虑飞机发动机失效过程状态，利用飞机发动机运行中采集到的反映其健康状态的多元传感器信号数据，实现对飞机发动机失效过程的建模和剩余寿命的预测。
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本发明公开了一种BMS控制器测试系统及方法。该测试系统包括：控制模块、继电器模块和指示模块，所述继电器模块包括至少两个继电器；所述控制模块用于向至少一个待测BMS控制器发送配置信息，其中，所述配置信息包括硬件失效测试信息，所述硬件失效测试信息用于测试所述BMS控制器的硬件控制是否失效；所述指示模块用于指示所述继电器导通或关断状态并根据所述继电器导通或关断状态得到指示结果；所述控制模块还用于根据所述配置信息及所述指示结果输出测试报文。本发明实施例提供的技术方案实现了模拟BMS控制器工作验证测试，并且通过添加硬件失效验证，对BMS系统控制器硬件失效问题进行诊断，提高了验证安全性、开发效率和验证全面性。
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本发明公开了一种铝电解电容的倍压测试方法，包括以下步骤：测试一：采用直流电，在第一温度条件下，对铝电解电容施加x秒的第一电压；逐级调大所述第一电压并重复测试一的步骤，直至所述铝电解电容失效；测试二：采用直流电，在第二温度条件下，对铝电解电容施加y秒的第二电压；逐级调大所述第二电压并重复测试二的步骤，直至所述铝电解电容失效。本发明能够观测铝电解电容在不同温度、电压条件下的失效情况，确认是否正常、安全、可控，对铝电解电容的实际失效情况模拟性强，更具代表性，因此测试结果的可信性更强。
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本发明提供了一种透射电镜样品的制备方法及观测方法，制备方法包括如下步骤：提供待观测芯片，所述待观测芯片包括失效地址单元；通过电子束在所述失效地址单元上形成第一保护层；在所述待观测芯片上形成一标记，所述标记在所述第一保护层一侧；通过离子束在所述第一保护层和所述标记上形成第二保护层。在本发明提供的透射电镜样品的制备方法及观测方法中，可以通过所述标记标出出失效地址单元的位置，从而对制得的透射电镜样品观测时，能够快速准确的找到失效地址单元，通过两层保护层能够有效的保护失效地址单元不受其它操作的影响，通过离子束形成的第二保护层较通过电子束形成的第一保护层更致密，从而既能够实现对于失效地址单元的有效保护。
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本发明提供了一种产品容错性测试方法及其故障插入装置,通过产生故障模拟信号对产品进行容错性测试,所述方法在产品内部设置故障插入装置,由故障插入装置产生不同类型的故障模拟信号,通过产品内部的CPU控制接口选通故障插入装置的通信控制模块,对通信控制模块的控制寄存器进行内容控制,有选择性地将不同类型的故障模拟信号插入任意的芯片输入/输出管脚或直接插入芯片内部的功能模块,从而模拟产品内部单元部分失效或全部失效。本方法可以为电子产品提供一种简单、功能强大的在线故障插入手段,可完成多种类型信号故障的模拟,全面模拟各种故障模式,提高了单板测试覆盖面和重复性,丰富了容错性测试方法,改善了测试效果。
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本发明涉及用于对包括至少两个部件(K1、K2、K3、…KN)的产品的预期寿命进行预测的一种方法和一种装置(20)。所述预期寿命根据该产品的一个假定现场负荷(1、3)而被测定。对所述产品的部件(K1、K2、K3、…KN)加载不同的负荷(T、ΔT),并在不同的负荷(T、ΔT)下分别将其驱动直至失效。借助一个部件(K1、K2、K3、…KN)的与负荷相关的失效时间(T、N),纪录所述部件(K1、K2、K3、…KN)的一个寿命终止(EOL)曲线(8)。所述产品的一个EOL曲线(11)如此来获得,即它在不同的负荷(T、ΔT)下包含所述部件(K1、K2、K3、…KN)的EOL曲线(8)中的那些在相应的负荷(T、ΔT)下分别具有最短的失效时间(T、N)的EOL曲线。将所述产品的预期寿命作为所述产品的EOL曲线(11)上的与所述产品的给定负荷(1、3)相关的函数值来获得。
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本公开提供一种芯片测试方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片测试技术领域。该方法包括：分别按照多个测试模式中的各个测试模式对多个芯片进行测试，获得各个测试模式对应的测试参数，测试参数包括测试时间信息和失效芯片信息，测试时间信息包括测试时长，失效芯片信息包括测试得到的失效芯片的数量；对于各个测试模式，根据测试得到的失效芯片的数量和测试时长获得该测试模式的敏感度指标；基于各个测试模式的敏感度指标从多个测试模式中确定目标测试模式；对目标测试模式进行测试时长减少操作，获得更新的目标测试模式，以按照多个测试模式对多个芯片进行测试。该方法实现了在不影响测试效果的前提下缩短芯片系统级测试的时间。
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本发明提供一种电子产品的温压双应力小样本加速试验寿命预测方法，其包括以下步骤：1、获取失效数据并进行排序，确定失效数据所满足的指数分布；2、计算并重新整理每个应力水平下的等效指数失效时间数据并进行排序；3、列出选定的信度水平并计算分位值；4、获得选定信度水平下的应力‑失效时间函数；5、获得选定应力水平下的对数失效时间分位值；6、得到参数的最小二乘估计值，确定选定应力水平下的失效时间分布。本发明基于不确定理论通过矩模型实现指数分布参数估计，获取等效指数失效时间数据，通过扩大样本数量实现指数分布参数的修正，提高了小样本条件下失效时间预测的精确性与收敛度。
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本发明公开了一种预估红外探测器真空筛选试验合格率的方法，包括：对样本数据进行采集，整理得到特征量；根据整理得到的特征量，建立Logistic回归模型；采样交叉验证法，对Logistic回归模型进行训练，得到训练后的Logistic回归模型；根据训练后的Logistic回归模型，对待预测红外探测器进行失效预测；根据待预测红外探测器的失效预测的结果，对预测结果为合格的待预测红外探测器，按照失效预测概率进行排序，并输出结果。通过本发明能够在试验前对探测器合格情况进行预测，优先选择性能较好且稳定的子样进行试验，避免失效率高的器件混入正样，提高了筛选的有效性、降低了成本。
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本发明公开了一种胎压监测方法及系统，包括接收到启动信号后，获取胎压监测传感器失效的累计次数；如果累计次数大于预设数值，向报警装置输出失效报警使能信号直至接收到胎压信息为止，且在接收到胎压信息后，将累计次数清零并锁存；如果累计次数小于或者等于预设数值，则释放对累计次数的锁存，及在车速大于预设车速限值期间，如果持续第二预设时间未接收到胎压信息，将累计次数加1并锁存。本发明增设了上述失效辅助报警部分，其对失效进行累计的条件相对触发丢失报警的条件更容易满足，只要累计次数超过预设数值，便可在下一次启动后立刻进行失效报警提示，以使车身控制器在监测到胎压监测传感器丢失后可正确触发报警。
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