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工作原理
EDX-LE PLUS通过X光管发射高能X射线，激发样品表面元素产生特征X荧光。其核心配置无需液氮冷却的电子制冷硅漂移探测器（SDD），可精准捕获荧光信号并转换为能量谱图。结合智能算法与标准数据库，仪器可在1分钟内完成从钠（Na）到铀（U）的元素定性定量分析，尤其擅长检测RoHS指令中的铅（Pb）、镉（Cd）、汞（Hg）等有害元素，以及无卤素标准中的氯（Cl）和溴（Br）。
应用范围
该设备覆盖多场景检测需求：
电子电气产品：快速筛查PCB、连接器、线缆中的有害物质；
金属材料：分析不锈钢、铜合金的成分及杂质含量；
玩具与消费品：检测EN71-3标准中的重金属迁移量；
工业过程控制：监测电镀液成分比例及镀层厚度。
技术参数
EDX-LE PLUS具备以下核心指标：
测定范围：13Al-92U，覆盖轻、重元素；
样品室尺寸：370mm×320mm×155mm，适配大型样品；
分辨率：140eV（Mn Kα），确保弱信号检测精度；
检测时间：60秒内完成单次分析；
制冷方式：电子制冷，无需液氮维护。
产品特点
高效精准：采用高分辨率SDD探测器与自动光管老化功能，实现高速筛选与高可信性分析；
智能化操作：内置RoHS/ELV分析套件，支持一键自动测试与报告生成，初学者亦可快速上手；
模块化设计：可选配5种自动交换滤光片与准直器，适应不同形状样品的检测需求；
安全可靠：配备铅屏蔽设计与软件权限限制功能，防止误操作，符合ISO 3497等国际标准。
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