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工作原理
EDX1800B通过大功率X光管发射高能X射线，激发样品表面元素产生特征X荧光。半导体探测器（如SDD或Si-PIN）捕捉荧光信号，将其转化为电脉冲，经多道分析器处理后生成能量谱图。通过比对标准数据库，仪器可快速计算样品中各元素的种类及含量，检测限低至1ppm，重复测量偏差≤0.05%。例如，在检测电子元件中的铅（Pb）含量时，仪器可在100秒内完成测试并输出结果。
应用范围
该设备覆盖多行业核心检测需求：
RoHS合规检测：精准分析电子电气产品中铅、镉、汞、六价铬等有害物质；
镀层与电镀液分析：测量金属镀层厚度（0.005μm起）及电镀液成分比例；
地矿与合金分析：检测铜、不锈钢等合金的元素组成及含量分布。
技术参数
EDX1800B具备以下核心指标：
元素范围：硫（S）至铀（U），覆盖轻、重元素；
检出限：1ppm（部分元素可达0.5ppm）；
能量分辨率：140±5eV，确保高精度分析；
样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm，适配不同形状样品；
环境适应性：工作温度15℃-30℃，湿度35%-70%，电源220V±5V。
产品特点
高效检测：100W大功率X光管与电动准直器组合，实现快速测试；
智能校正：内置多变量非线性回归程序，可独立校正基体效应；
人性化设计：下照式结构适配不规则样品，移动平台支持微米级定位；
安全可靠：多重防护系统（如铅屏蔽、温控光管）保障操作安全，延长设备寿命。
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