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工作原理
WG-JX3233D采用远色差校正光学系统，通过多组透镜的协同优化消除色差与像散，确保成像边缘锐度与色彩还原度。样品置于载物台后，物镜将表面微结构投射至目镜或相机传感器，形成放大虚像。其核心光学路径为：光源经柯勒照明系统均匀照亮样品，反射光通过物镜汇聚后，经三目观察筒分光至目镜或相机，实现明场、暗场、偏光等多模式观察。例如，检测金属晶粒度时，偏光模式可清晰呈现晶界结构，配合测微台尺可精准测量晶粒尺寸。
应用范围
该设备覆盖多行业精密检测需求：在电子制造领域，可分析印刷电路板（PCB）镀层厚度均匀性、芯片封装裂纹；在材料科学中，支持金属合金相组织分析、陶瓷材料气孔率测量；在汽车行业，还能检测涡轮叶片涂层附着力、齿轮齿面磨损深度。此外，其大空间设计可兼容直径150mm、高度80mm的样品，适配大型机械零件的无损检测。
技术参数
WG-JX3233D配备5孔高精度物镜转换器，支持5X、10X、20X、50X、100X干系物镜，总放大倍数50X-1000X；载物台行程105mm（X）×100mm（Y），X/Y轴调节旋钮张力可调；光源采用长寿命LED灯，寿命超30000小时；图像采集装置为500万像素CMOS传感器，支持实时采集与存储；设备尺寸650mm×550mm×800mm，净重65kg，适配220V/50Hz电源。
产品特点
大空间设计：载物台行程与高度适配大型样品，减少切割制样环节，提升检测效率；
多模式观察：支持明场、暗场、偏光切换，满足金属相组织、非金属夹杂物等不同分析需求；
高精度成像：远色差校正系统与全金属物镜组确保图像畸变率＜0.05%，重复定位精度±1μm；
智能操作：编码物镜与软件联动，自动匹配标尺与照明参数，简化复杂检测流程。
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