全部
▼
236
工作原理
SA-50DX基于反射式光学成像原理，通过LED光源发出光线，经柯拉照明系统调整后，以垂直或斜射方式照射样品表面。样品反射的光线依次通过长工作距平场消色差物镜（如50X/0.55半复消物镜）和10X/22mm高眼点平场目镜，形成高对比度、高分辨率的显微图像。其无限远色差校正光学系统（CSIS）可消除像差，确保图像边缘清晰；DIC微分干涉组件通过双光束干涉增强样品表面微小起伏的可见性，使晶界、裂纹等细节呈现立体浮雕效果。
应用范围
设备覆盖多场景分析需求：
金属材料研究：观察钢铁晶粒尺寸、铝合金夹杂物分布、钛合金相组成等；
工业检测：检测焊接接头质量、铸件气孔缺陷、热处理层深度；
失效分析：定位断裂源、评估材料疲劳损伤程度；
非金属材料分析：研究陶瓷晶相结构、塑料填充物分散性、复合材料界面结合状态。
产品技术参数
放大倍数：50X-1000X（标准配置10X目镜+5X-100X物镜）；
移动平台：X/Y方向105mm×105mm行程，低手位同轴调节；
调焦机构：粗调行程30mm，微调精度0.001mm，带防下滑松紧装置；
照明系统：5W LED光源，亮度可调，支持明场、斜照明、偏光观察；
扩展接口：C接口（0.5X）支持数码相机连接，可选配图像分析软件。
产品特点
SA-50DX以“模块化、智能化、人性化”为核心优势：
功能灵活：集成明场、斜照明、偏光、DIC四种观察模式，无需更换设备即可完成多维度分析；
成像卓越：半复消物镜提升高倍下色差校正能力，图像分辨率达0.2μm；
操作便捷：30°倾斜观察筒符合人机工程学，低手位调焦机构减轻操作疲劳；
安全可靠：随机限位装置防止物镜碰撞样品，IP54防护等级适应实验室环境。
该设备为材料研发、质量控制提供全流程解决方案，助力企业提升检测效率与数据准确性。
咨询底价
