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工作原理
BD-50采用无限远光学系统设计，通过物镜将光线聚焦于样品表面，反射光经无限远校正管镜后形成清晰影像，并传输至高分辨率数码相机进行捕捉。设备支持明场、暗场、偏光及微分干涉（DIC）等多种观察模式，可清晰呈现材料晶粒结构、相组成、夹杂物分布等微观特征。其光学系统经过精密调校，确保成像边缘无畸变，色彩还原真实。
应用范围
该设备广泛应用于金属材料检测、半导体制造、地质矿物分析及生物医学研究等领域。例如，在钢铁行业，可分析金属晶粒度、非金属夹杂物等级；在电子领域，支持芯片封装材料缺陷检测；在地质勘探中，能鉴定矿物晶体形态与成分；在科研教学中，还可用于材料微观组织演变规律的研究。
技术参数
BD-50配备5X-100x平场消色差物镜组，总放大倍数范围50x-1000x（含10x目镜）。数码相机分辨率达500万像素，支持实时图像显示与4K视频录制。载物台行程为150mm×100mm，移动精度0.1mm，可适配最大Φ50mm样品。光源系统采用LED冷光源与柯勒照明组合设计，亮度连续可调且寿命超5万小时。
产品特点
高清成像：无限远光学系统结合高分辨率相机，实现亚微米级细节呈现。
多模式观察：一键切换明场、暗场、偏光等模式，满足多样化检测需求。
操作便捷：人体工学设计载物台与电动调焦系统，提升检测效率与舒适度。
稳定可靠：全金属机身与抗震基座设计，确保长期使用稳定性。
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